乾溼式雷射粒徑分析儀
Laser Diffraction Particle Analyzer
雷射粒徑分析儀Treksizer 2600系列是測量顆粒粒徑最有效的方法。經由側向、前向與後向全角度偵測散射光光信號之光學系統，具有高精確度之特性。擁有折射率測量技術，更提高重複性與準確性。可選配不同樣品進樣裝置，廣泛應用於各種領域。
- 具備多種模式之樣品進樣裝置，可適用於各種類樣品：
a.水循環分散系統應用於大部分樣品，
b. 乾式分散系統應用於易溶解樣品和磁性材料
c. 微量乾式分散系統適用於貴重樣品（例如：原藥)
d. 溶劑型循環分散系統適用於有機溶劑分散液
e. 微量樣品池系統適用於易溶解於水的之樣品 - 具有自動測試、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等智慧化功能，簡化操作，減少了人為因素對量測結果的影響。
詳細規格請諮詢本公司
一般參數 | |
量測原理 | 雷射光繞射法/雷射光衍射法 Laser diffraction technology |
分析模式 | Mie scattering theory and Fraunhofer diffraction theory |
性能 | |
粒徑量測範圍 | 0.02um~2600um(濕法分析) ; 0.1um~2600um(乾法分析)* |
精確度 | ≤ 0.5%* |
再現性 | ≤ 0.5%* |
其他功能 | SOP 設定, refractive index 計算器, 粒徑分佈比例計算 |
光學系統 | |
光學系統 | 結合Fourier and inverse Fourier 與傾斜樣品池 |
雷射光源 | High-power optical fiber laser (10 mW / 635 nm) |
雷射光源級數 | Class 1 laser product |
操作軟體 | |
Conformity | 21 CFR Part 11, ISO 13320, USP <429> |
*取決於樣品和樣品製備 | |
雷射粒徑與顆粒影像分析儀
Laser Particle Size and Particle Shape Analyzer
雷射粒徑與顆粒影像分析儀，是將雷射繞射和動態影像分析結合在一台儀器中。它可以測量0.01μm至3500μm顆粒的尺寸和形狀。它對超細顆粒或超大顆粒具有卓越的靈敏度，以及無與倫比的分辨率，使其成為進行頂級科學研究的熱情研究人員最強大的尺寸和形狀分析儀。
- 可得到每一個顆粒的粒徑和粒形資訊
- 利用雷射光繞射法將每個顆粒的粒徑進行統計，從而得到粒徑(D50)及粒徑分佈
- 採用自動光學對焦
- 測量範圍：0.01至3500µm（雷射光學系統）； 2 至 3500µm（影像系統）
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